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產品詳細說明
ICS 105型集成電路掃描儀，可對集成電路和小型組件進行高頻近場測量。根據使用的探頭情況，可在 (50x50x50) mm 的空間范圍內對磁場或電場進行測量，并在電腦上顯示測量結果。此外，探頭可自動旋轉以確定磁場的準確方向。 可單獨訂購的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內的測量，空間分辨率可達 50μm。
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