KLA 納米壓痕儀NanoFlip系列

 　　NanoFlip納米壓痕儀可在真空和氣氛條件下，準(zhǔn)確、精密地進(jìn)行硬度、模量、屈服強(qiáng)度、剛度和其它納米力學(xué)性能的測(cè)試。無(wú)論在掃描電子顯微鏡(SEM)或是聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)中，NanoFlip均可出色完成微柱壓縮等測(cè)試，并將SEM圖像與力學(xué)測(cè)試數(shù)據(jù)同步。NanoFlip是*款緊湊、靈活的原位納米力學(xué)測(cè)試儀，其測(cè)試速度快，這對(duì)于在惰性條件下（例如手套箱中）測(cè)試非均質(zhì)材料至關(guān)重要。基于InForce 50電磁力作動(dòng)器等多種可用功能選項(xiàng)，可獲取定量結(jié)果，為材料研究提供有價(jià)值的解決方案。