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產品詳細說明
垂直雙觀測結構（DSOI）提升了靈敏度，同時降低了樣品基體效應
以*當二：炬管即可垂直又可水平放置的主機，可快速切換以滿足真正的雙向觀測要求
ORCA光路結構：同時讀取130-770nm譜線信號，和通常的中階梯光柵+棱鏡交叉色散的光學系統相比，光強度信號提升可高達5倍，紫外/遠紫外區的靈敏度提高無與倫比
SPECTRO ARCOS型等離子體發射光譜儀（ICP-OES）超越了當代工業和科研*域金屬、化學、石化、材料等行業元素分析的要求。
MultiView設計讓使用者可以在90秒內將垂直炬管“旋轉”成水平炬管，反之亦然。垂直炬管附加了雙觀測光路接口以增加光通量，提高了靈敏度，降低了基體效應，兩全其美。
由CMOS組成的線性陣列檢測器，無需制冷，無溢出效應，可記錄樣品基體強譜線中微弱的目標譜線信號，檢測動態范圍更寬。
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